Przegląd Elektrotechniczny
tttt/div>

Oldest magazine of Polish electrician. It appears since 1919.

strona w języku polskim english page



No/VOL: 07/2024 Page no. 166

Authors: Andrzej Bień , Szymon Barczentewicz , Tomasz Filipów :

Title: Bezpowrotne zniszczenie zawartości pamięci typu Flash

Abstract: W artykule przedstawiono laboratoryjny model nowatorskiego urządzenia do nieodwracalnego niszczenia pamięci Flash. W artykule dokonano krótkiego przeglądu literatury na temat niszczenia pamięci Flash. Podano podstawowy opis modelu laboratoryjnego. Zaprezentowano wyniki badań funkcjonalności urządzenia niszczącego Flash. Testy wykazały przydatność zaproponowanego rozwiązania.

Key words: pamięć Flash, bezpieczeństwo danych, impuls elektromagnetyczny, bezpowrotne niszczenie danych

wstecz