No/VOL: 10/2011 Page no. 159
Authors: Łukasz Chruszczyk , Jerzy Rutkowski :
Title: Maksymalizacja tolerancji w diagnostyce uszkodzeń analogowych układów elektronicznych
Abstract: W pracy przedstawiono projektowanie periodycznego pobudzenia testowego dla diagnostyki uszkodzeń analogowych układów elektronicznych. Zaproponowano sposób maksymalizacji tolerancji elementów obwodu przy zachowaniu założonego poziomu diagnostyki uszkodzeń. Wykazano również, że połączenie etapów detekcji i lokalizacji uszkodzeń może znacząco skrócić czas testowania.
Key words: diagnostyka uszkodzeń, elektronika analogowa, redukcja czasu testowania, tolerancja elementów, algorytm genetyczny.