No/VOL: 07/08/2004 Page no. 743-747
Authors: Łukasz Oskwarek :
Title: Metodyka doboru parametrów i struktury wielopunktowego systemu pomiarowego do tomografii impedancyjnej
Abstract: W artykule przedstawiony został sposób przeprowadzania analizy metrologicznej systemu pomiarowego do tomografii impedancyjnej. Prezentowane dwa różne modele wielopunktowych systemów pomiarowych zostały wykorzystane przede wszystkim w celu badania wpływu dokładności pomiarów na uzyskiwane wyniki pomiarów i rekonstrukcji obrazu dla różnych parametrów i struktur dedykowanego systemu pomiarowego.
Key words: tomografia impedancyjna, rozkład konduktywności, wielopunktowy system pomiarowy, niepewność wyników pomiarów