No/VOL: 07/08/2004 Page no. 739-742
Authors: Ryszard Sikora , Piotr Baniukiewicz :
Title: Zastosowanie logiki rozmytej do określania parametrów wad w płytach metalowych
Abstract: W artykule przedstawiono algorytmy identyfikacji rozmiaru i głębokości wad występujących w płytach metalowych za pomocą logiki rozmytej. Zbadany został wpływ zakłóceń na dokładność rozpoznawania oraz problem doboru odpowiednich funkcji przynależności w systemie Fuzzy Logic z wykorzystaniem ANFIS. W procesie uczenia wykorzystano wyniki badań płyt z Inconelu zawierających wady o znanych parametrach. W procesie pomiarowym wykorzystano metodę wiroprądowej defektoskopii wieloczęstotliwościowej.
Key words: defektoskopia, rozpoznawanie wad, logika rozmyta