No/VOL: 09/2016 Page no. 88
Authors: Michael Tivanov , Iryna Kaputskaya , Aleksy Patryn , Anis Saad , Ludmila Survilo , Evgenij Ostretsov :
Title: Wyznaczanie parametrów optycznych grubych warstw CdSxSe1-x z analizy widma odbicia
Abstract: Przeanalizowano metodę wyznaczenia szerokości przerwy energetycznej i współczynnika załamania z pomiarów widma współczynnika odbicie warstw CdSxSe1-x otrzymanych metodami sitodruku i konsolidacji termicznej (sintering technique).
Key words: półprzewodniki, warstwy CdSxSe1-x, współczynnik załamania, widmo odbicia.