Przegląd Elektrotechniczny
tttt/div>

Oldest magazine of Polish electrician. It appears since 1919.

strona w języku polskim english page



No/VOL: 07/2018 Page no. 157

Authors: Marcin Turek , Andrzej Droździel , Krzysztof Pyszniak , Artur Wójtowicz , Yuriy Yushkevich :

Title: Termodesorpcja ksenonu implantowanego do krzemu

Abstract: Artykuł prezentuje wyniki badań termodesorpcji Xe zaimplantowanego do krzemu (energie 80 keV, 100 keV oraz 150 keV). Zaobserwowano gwałtowne emisje Xe w temperaturach od 1060 K do ~1600 K, pochodzące najprawdopodobniej od uwalniania gazu zgromadzonego w aglomeratach we wnękach w matrycy Si. Oszacowano wartości energii aktywacji desorpcji – jest ona rzędu 3 do 3,4 eV w rozpatrywanym zakresie energii implantacji, a więc jest większa niż dla badanych wcześniej lżejszych gazów szlachetnych w matrycy Si.

Key words: Spektroskopia termodesorpcyjna, implantacja jonowa, krzem.

wstecz