No/VOL: 02/2009 Page no. 196-199

Authors: Hristo Radev :

Title: O podejściach do pomiaru i jego dokładności

Abstract: W artykule przedstawiono ujęcia opisu pomiaru i jego dokładności używane we współczesnej metrologii. Na podstawie analizy porównawczej oceniono ich zgodność i obszar zastosowania.

Key words: pomiar, podejścia, ocena, błąd, niepewność

wstecz