No/VOL: 07/2010 Page no. 276
Authors: Tomasz Kołtunowicz , V.G. Lugin , Ivan Zarskij , Tatiana Kamliuk :
Title: Badania mikrostruktury powierzchni osadzanych chemicznie matryc SiO2 jako nośników funkcjonalnych elementów optoelektroniki
Abstract: W pracy zbadano strukturalne i optyczne właściwości cienkowarstwowych matryc na bazie SiO2 wytworzonych techniką zol-żel używanych do wykrywania amoniaku. Określono związek pomiędzy właściwościami strukturalnymi oraz odpowiedzią optyczną przy detekcji amoniaku. Wykazano możliwość zastosowania wytworzonych warstw w analizatorach gazów.
Key words: matryca SiO2, technika zol-żel, czujnik optyczny, amoniak.