No/VOL: 09/2010 Page no. 1
Authors: Bogdan Bartosiński :
Title: Współczesne trendy w diagnostyce układów elektronicznych z wykorzystaniem magistral testujących
Abstract: Przedstawiono magistrale testujące przeznaczone do diagnostyki cyfrowych i analogowych układów elektronicznych: IEEE 1149.1 dla układów cyfrowych, IEEE 1149.4 dla układów mieszanych sygnałowo oraz magistralę IEEE 1149.6 dla złożonych układów cyfrowych sprzężonych pojemnościowo. Zaprezentowano wyniki badań nad wykorzystaniem wyposażonych w magistralę IEEE 1149.4 układów SCANSTA400 do testowania i identyfikacji uszkodzeń w układach elektronicznych. Badaniami objęto metody pomiaru rezystancji oraz metody pomiaru pojemności i indukcyjności o małym współczynniku stratności. Wykonane badania potwierdziły użyteczność układów SCANSTA400 wyposażonych w magistralę IEEE 1149.4 do wykrywania błędów produkcyjnych, bez konieczności użycia złożonych głowic ostrzowych. Zaprezentowano opracowany w ostatnich miesiącach standard magistrali dwuprzewodowej IEEE 1149.7 a także propozycje standardu IEEE P1581, IEEE 1149.8.1 oraz przedstawiono perspektywy i kierunki dalszego rozwoju magistral testujących.
Key words: projektowanie ułatwiające testowanie DfT, magistrale testujące, IEEE 1149.1, IEEE 1149.4, IEEE 1149.6.