No/VOL: 02a/2013 Page no. 267
Authors: Andrzej Kuczyński , Marek Ossowski :
Title: Optymalizacja warunków testowych do wykrywania i lokalizacji uszkodzen katastroficznych w nieliniowych układach analogowych
Abstract: W pracy przedstawiono dobór warunków testu w metodzie wykrywania i lokalizacji uszkodzen katastroficznych w układach analogowych zawieraja˛cych tranzystory MOS. W zastosowanym algorytmie detekcji uszkodzen informacje o własciwosciach układu sa˛ zakodowane w przebiegu pra˛du z´ródła, zasilaja˛cego obwód w stanie nieustalonym. Parametry sygnału pobudzaja˛cego i wartosci dodatkowych elementów sa˛ modyfikowane w procesie optymalizacyjnym tak, by powie˛kszyc róz˙nice mie˛dzy sygnałami testowymi odpowiadaja˛cymi rozwaz˙anym uszkodzeniom. Działanie algorytmu zilustrowano na praktycznym przykładzie.
Key words: układy analogowe, wykrywanie uszkodzen, dyskretna transformacja falkowa, jednokierunkowe sieci neuronowe, optymalizacja