No/VOL: 09/2015 Page no. 113
Authors: Mirosław Maliński , Leszek Bychto , Łukasz Chrobak , Wiesław Madej , Anna Twardak , Wojciech Gieszczyk :
Title: Mapowanie czasu życia nośników w materiałach półprzewodnikowych z wykorzystaniem techniki modulacji absorpcji na swobodnych nośnikach
Abstract: W artykule zaprezentowano tematykę bezkontaktowego mapowania czasów życia nośników w materiałach półprzewodnikowych z wykorzystaniem techniki modulacji absorpcji na swobodnych nośnikach. Opisano szczegóły techniczne dotyczące realizacji stanowiska badawczego oraz wykorzystanej metody detekcji sygnału. Przedstawiono i przedyskutowano przykładowe mapy czasów życia nośników w krzemie monokrystalicznym. W pracy omówiono również sposób wyznaczania koncentracji pułapek odpowiedzialnych za skrócenie czasu życia nośników.
Key words: metody nieniszczące, technika modulacji absorpcji na swobodnych nośnikach, krzem, czasy życia nośników, mapowanie parametrów rekombinacyjnych.