Numer: 10/2019 Str. 204
Autorzy: Piotr Sidyk :
Tytuł: Wybrane aspekty diagnostyki liniowych układów analogowych z wykorzystaniem analizy wrażliwościowej
Streszczenie: W artykule przedstawiono przegląd metod formułowania równań diagnostycznych w liniowych układach analogowych. W przypadku obwodów dynamicznych omówiono tworzenie równania diagnostycznego na podstawie opisu układów w dziedzinie czasu i częstotliwości. Ujednolicony i usystematyzowany opis różnych klas obwodów liniowych prowadzi do ogólnego równania diagnostycznego oraz pozwala na zastosowanie ogólnej procedury jego rozwiązywania. Zaproponowana metodologia umożliwia lokalizację i identyfikację pojedynczych oraz wielokrotnych uszkodzeń parametrycznych. Działanie metody zilustrowano na przykładowym układzie elektronicznym.
Słowa kluczowe: diagnostyka uszkodzeń, układy analogowe, analiza wrażliwościowa