Najstarsze czasopismo elektryków polskich. Ukazuje się od 1919 roku.

strona w języku polskim english page

Numer: 10/2019 Str. 204

Autorzy: Piotr Sidyk :

Tytuł: Wybrane aspekty diagnostyki liniowych układów analogowych z wykorzystaniem analizy wrażliwościowej

Streszczenie: W artykule przedstawiono przegląd metod formułowania równań diagnostycznych w liniowych układach analogowych. W przypadku obwodów dynamicznych omówiono tworzenie równania diagnostycznego na podstawie opisu układów w dziedzinie czasu i częstotliwości. Ujednolicony i usystematyzowany opis różnych klas obwodów liniowych prowadzi do ogólnego równania diagnostycznego oraz pozwala na zastosowanie ogólnej procedury jego rozwiązywania. Zaproponowana metodologia umożliwia lokalizację i identyfikację pojedynczych oraz wielokrotnych uszkodzeń parametrycznych. Działanie metody zilustrowano na przykładowym układzie elektronicznym.

Słowa kluczowe: diagnostyka uszkodzeń, układy analogowe, analiza wrażliwościowa

wstecz