Przegląd Elektrotechniczny

Najstarsze czasopismo elektryków polskich. Ukazuje się od 1919 roku.

strona w języku polskim english page



Numer: 01/2022 Str. 135

Autorzy: Jarosław Wróbel , Sebastian Odrzywolski , Sebastian Złotnik , Jacek Boguski , Malwina Liszewska , Bogusław Budner , Bartłomiej Jankiewicz , Kacper Matuszelański :

Tytuł: Badania jednorodności cienkich warstw InAs otrzymywanych metodą epitaksji z wiązek molekularnych

Streszczenie: Niniejsza praca porusza zagadnienie charakteryzacji warstw epitaksjalnych arsenku indu (InAs) pod kątem jednorodności przestrzennej. Badania przeprowadzone w pracy zostały oparte na trzech metodach charakteryzacji: wysokorozdzielczej mikroskopii optycznej, mikroskopii sił atomowych i spektroskopii Ramana. Obiektem badań były warstwy epitaksjalne InAs na podłożach arsenku galu (GaAs), które zostały wytworzone metodą epitaksji z wiązek molekularnych (MBE).

Słowa kluczowe: InAs, jednorodność, charakteryzacja cienkich warstw, MBE

wstecz