Przegląd Elektrotechniczny

Najstarsze czasopismo elektryków polskich. Ukazuje się od 1919 roku.

strona w języku polskim english page



Numer: 03/2008 Str. 196-199

Autorzy: Fadiej Komarow , Mirosław Kulik , Jerzy Zuk , Witold Rzodkiewicz :

Tytuł: Badanie wpływu dawki implantowanego indu na funkcję dielektryczną w implantowanych warstwach GaAs metodą elipsometrii spektralnej

Streszczenie: Zaprezentowano rezultaty badania wpływu dawki implantowanego indu na funkcję dielektryczną w implantowanych warstwach GaAs. Badania przeprowadzono metodą elipsometrii spektralnej.

Słowa kluczowe: implantacja jonowa,elipsometria spektralna, współczynniki załamania i ekstynkcji, GaAs

wstecz