Numer: 03/2008 Str. 283-284
Autorzy: Paweł Zukowski , Czesław Karwat , Czesław Kozak , Mariusz Kolasik , Valery Luhin :
Tytuł: Badania szybkości degradacji powłok ochronnych styków łączników prądu przemiennego za pomocą elektronowej mikroskopii skaningowej i mikroanalizy rentgenowskiej
Streszczenie: W pracy przedstawiono wyniki badań zmian koncentracji powierzchniowej srebra zachodzących w trakcie eksploatacji w powłokach ochronnych naniesionych galwanicznie na styki miedziane łączników powszechnego użytku.
Słowa kluczowe: styki, powłoki ochronne