Numer: 12/2024 Str. 5
Autorzy: Jakub Duk , Andrzej Kociubiński , Mariusz Duk , Karolina Czarnacka :
Tytuł: Automatyczne stanowisko do charakteryzacji struktur wykazujących efekty magnetorezystancyjne
Streszczenie: W artykule opisano rozwój zautomatyzowanego systemu pomiarowego struktur cienkowarstwowych wykazujących efekty magnetorezystancyjne, takie jak magnetorezystancja anizotropowa i gigantyczna. System składa się z miernika rezystancji/impedancji oraz stołu do pozycjonowania próbek sterowanego oprogramowaniem Matlab. Podano szczegóły dotyczące konstrukcji systemu, w tym wykorzystania Arduino Nano do sterowania stołem pozycjonującym. Omówiono przykłady zastosowań w pomiarze zmian rezystancji w różnych orientacjach próbek.
Słowa kluczowe: magnetorezystancja, automatyzacja pomiarów, system pomiarowy, struktury cienkowarstwowe.