Przegląd Elektrotechniczny

Najstarsze czasopismo elektryków polskich. Ukazuje się od 1919 roku.

strona w języku polskim english page



Numer: 05/2008 Str. 161-164

Autorzy: Rafał Krajewski , Małgorzata Kujawińska , Nitish Kumar , Tomasz Kozacki , Hugo Thienpont :

Tytuł: Badania rozkładu współczynnika załamania polimerowych struktur mikrooptycznych za pomocą systemu tomografii interferencyjnej

Streszczenie: W artykule przedstawione zostały wyniki pomiarów zintegrowanego dwuwymiarowego rozkładu współczynnika załamania (projekcji) elementów optycznych wykonanych za pomocą niskonakładowych technologii wytwarzania. Pomiar polega na analizie rozkładu fazy wiązki światła przechodzacej przez badaną próbkę. Do wyznaczenia rozkładu współczynnika załamania zastosowany został dedykowany algorytm kompensujący wpływ kształtu powierzchni na wynik pomiaru. Skorygowane projekcje stanowią dane wejściowe do rekonstrukcji tomograficznej n(x,y,z). Wyniki pomiarów są punktem wyjścia do zaprojektowania nowej generacji niskonakładowych układów mikrointerferometrycznych.

Słowa kluczowe: pomiar współczynika załamania, technologie niskonakładowe, tomografia interferencyjna

wstecz