Numer: 04/2010 Str. 72
Autorzy: Wiesław Wilczyński , Andrzej Sikora , Dominika Gaworska-Koniarek , Mariusz Ozimek :
Tytuł: Nanoskopowa analiza orientacji domen magnetycznych z wykorzystaniem technik bliskiego pola
Streszczenie: Cienkie warstwy NiFe otrzymano na szkle kwarcowym za pomocą impulsowego rozpylania magnetronowego. Proces nakładania prowadzono przy stałej mocy (550 W) i różnym ciśnieniu gazu roboczego (0,4, 1,0, 4,0 Pa). Zbadano strukturę domenową otrzymanych warstw za pomocą mikroskopii sił magnetycznych (MFM). Grubość powłok zawierała się w przedziale od 80 do 150 nm.
Słowa kluczowe: mikroskopia sił magnetycznych, domeny magnetyczne, cienkie warstwy Ni-Fe, rozpylanie magnetronowe.