Numer: 11a/2010 Str. 207
Autorzy: Andrzej Sikora , Łukasz Bednarz :
Tytuł: System zaawansowanej analizy sygnałów do pomiaru właściwości mechanicznych powierzchni w mikroskopii sił atomowych
Streszczenie: W niniejszym artykule zaprezentowano opracowany moduł diagnostyczny, który pozwolił na rozszerzenie możliwości pomiarowych komercyjnego mikroskopu sił atomowych. Zaimplementowane rozwiązanie sprzętowo-programowe pozwala na detekcję skrętnych wychyleń belki skanującej. W efekcie możliwe jest zrekonstruowanie krzywej spektroskopii sił, co umożliwia szybkie, wysokorozdzielcze mapowanie właściwości powierzchni takich jak sztywność, adhezja czy rozpraszanie energii..
Słowa kluczowe: mikroskopia sił atomowych, techniki pomiarowe, przetwarzanie sygnałów.