Przegląd Elektrotechniczny

Najstarsze czasopismo elektryków polskich. Ukazuje się od 1919 roku.

strona w języku polskim english page



Numer: 10/2011 Str. 136

Autorzy: Wojciech Toczek :

Tytuł: Emulator analogowych uszkodzeń parametrycznych

Streszczenie: W artykule przedstawiono emulator uszkodzeń analogowych bazujący na programowalnym mikrosystemie jednoukładowym. Użycie struktur programowalnych znacznie ułatwia wprowadzanie uszkodzeń parametrycznych pojedynczych i wielokrotnych w szerokim zakresie zmian wartości parametrów. Urządzenie służy do wspomagania badań w zakresie testowania zorientowanego na uszkodzenia. Mechanizm dynamicznej rekonfiguracji układu obniża koszty i przyspiesza eksperymentalną weryfikację nowych metod testowania.

Słowa kluczowe: uszkodzenia analogowe, testowanie zorientowane na uszkodzenia, emulator uszkodzeń, diagnostyka.

wstecz