Numer: 10/2011 Str. 159
Autorzy: Łukasz Chruszczyk , Jerzy Rutkowski :
Tytuł: Maksymalizacja tolerancji w diagnostyce uszkodzeń analogowych układów elektronicznych
Streszczenie: W pracy przedstawiono projektowanie periodycznego pobudzenia testowego dla diagnostyki uszkodzeń analogowych układów elektronicznych. Zaproponowano sposób maksymalizacji tolerancji elementów obwodu przy zachowaniu założonego poziomu diagnostyki uszkodzeń. Wykazano również, że połączenie etapów detekcji i lokalizacji uszkodzeń może znacząco skrócić czas testowania.
Słowa kluczowe: diagnostyka uszkodzeń, elektronika analogowa, redukcja czasu testowania, tolerancja elementów, algorytm genetyczny.