Przegląd Elektrotechniczny

Najstarsze czasopismo elektryków polskich. Ukazuje się od 1919 roku.

strona w języku polskim english page



Numer: 07/08/2004 Str. 743-747

Autorzy: Łukasz Oskwarek :

Tytuł: Metodyka doboru parametrów i struktury wielopunktowego systemu pomiarowego do tomografii impedancyjnej

Streszczenie: W artykule przedstawiony został sposób przeprowadzania analizy metrologicznej systemu pomiarowego do tomografii impedancyjnej. Prezentowane dwa różne modele wielopunktowych systemów pomiarowych zostały wykorzystane przede wszystkim w celu badania wpływu dokładności pomiarów na uzyskiwane wyniki pomiarów i rekonstrukcji obrazu dla różnych parametrów i struktur dedykowanego systemu pomiarowego.

Słowa kluczowe: tomografia impedancyjna, rozkład konduktywności, wielopunktowy system pomiarowy, niepewność wyników pomiarów

wstecz