Numer: 07/08/2004 Str. 743-747
Autorzy: Łukasz Oskwarek :
Tytuł: Metodyka doboru parametrów i struktury wielopunktowego systemu pomiarowego do tomografii impedancyjnej
Streszczenie: W artykule przedstawiony został sposób przeprowadzania analizy metrologicznej systemu pomiarowego do tomografii impedancyjnej. Prezentowane dwa różne modele wielopunktowych systemów pomiarowych zostały wykorzystane przede wszystkim w celu badania wpływu dokładności pomiarów na uzyskiwane wyniki pomiarów i rekonstrukcji obrazu dla różnych parametrów i struktur dedykowanego systemu pomiarowego.
Słowa kluczowe: tomografia impedancyjna, rozkład konduktywności, wielopunktowy system pomiarowy, niepewność wyników pomiarów