Przegląd Elektrotechniczny

Najstarsze czasopismo elektryków polskich. Ukazuje się od 1919 roku.

strona w języku polskim english page



Numer: 07/08/2004 Str. 739-742

Autorzy: Ryszard Sikora , Piotr Baniukiewicz :

Tytuł: Zastosowanie logiki rozmytej do określania parametrów wad w płytach metalowych

Streszczenie: W artykule przedstawiono algorytmy identyfikacji rozmiaru i głębokości wad występujących w płytach metalowych za pomocą logiki rozmytej. Zbadany został wpływ zakłóceń na dokładność rozpoznawania oraz problem doboru odpowiednich funkcji przynależności w systemie Fuzzy Logic z wykorzystaniem ANFIS. W procesie uczenia wykorzystano wyniki badań płyt z Inconelu zawierających wady o znanych parametrach. W procesie pomiarowym wykorzystano metodę wiroprądowej defektoskopii wieloczęstotliwościowej.

Słowa kluczowe: defektoskopia, rozpoznawanie wad, logika rozmyta

wstecz