Najstarsze czasopismo elektryków polskich. Ukazuje się od 1919 roku.

strona w języku polskim english page

Numer: 02a/2013 Str. 267

Autorzy: Andrzej Kuczyński , Marek Ossowski :

Tytuł: Optymalizacja warunków testowych do wykrywania i lokalizacji uszkodzen katastroficznych w nieliniowych układach analogowych

Streszczenie: W pracy przedstawiono dobór warunków testu w metodzie wykrywania i lokalizacji uszkodzen katastroficznych w układach analogowych zawieraja˛cych tranzystory MOS. W zastosowanym algorytmie detekcji uszkodzen informacje o własciwosciach układu sa˛ zakodowane w przebiegu pra˛du z´ródła, zasilaja˛cego obwód w stanie nieustalonym. Parametry sygnału pobudzaja˛cego i wartosci dodatkowych elementów sa˛ modyfikowane w procesie optymalizacyjnym tak, by powie˛kszyc róz˙nice mie˛dzy sygnałami testowymi odpowiadaja˛cymi rozwaz˙anym uszkodzeniom. Działanie algorytmu zilustrowano na praktycznym przykładzie.

Słowa kluczowe: układy analogowe, wykrywanie uszkodzen, dyskretna transformacja falkowa, jednokierunkowe sieci neuronowe, optymalizacja

wstecz