Numer: 03a/2013 Str. 79
Autorzy: Adam Popowicz :
Tytuł: Identyfikacja defektów struktury krystalicznej matryce CCD
Streszczenie: Celem artykułu jest zaprezentowanie oryginalnego pomysłu identyfikacji typów defektów struktury krystalicznej czujników światła jakimi są matryce CCD. Procedura jest nieskomplikowana i możliwa do przeprowadzenia bez specjalistycznej i drogiej aparatury. Metoda ta umożliwia rozróżnienie defektów na: punktowe oraz defekty przestrzenne – dyslokacje. Podczas badań wykazano również, iż typ defektu wpływa na zachowanie generacji prądu ciemnego podczas rejestracji światła.
Słowa kluczowe: matryca CCD, defekty w półprzewodniku, prąd ciemny