Przegląd Elektrotechniczny

Najstarsze czasopismo elektryków polskich. Ukazuje się od 1919 roku.

strona w języku polskim english page



Numer: 07/2013 Str. 1

Autorzy: Johannes Sievert , Thierry Belgrand , David Fox , Xialong Guo , Thomas Kochmann , Richard Lyke , Chaoyong Wang , Xing Zhou :

Tytuł: Nowe badania relacji między wynikami pomiarów metodą Epsteina a metodą testera próbek arkuszowych SST

Streszczenie: Piętnaście lat temu zaprezentowano porównanie wyników badań różnych próbek blach elektrotechnicznych wykonanych metoda Epsteina i przy wykorzystaniu testera próbek arkuszowych SST92. Wyniki pochodziły z badania próbek w tym samym laboratorium. Nowe wyniki zaprezentowane w pracy przedstawiają badania różnych próbek w różnych laboratoriach. Otrzymano nieco większy rozrzut zmierzonych wartości. W artykule analizuje się przyczyny tych różnic.

Słowa kluczowe: blachy elektrotechniczne, rama Epsteina, tester próbek arkuszowych SST

wstecz