Przegląd Elektrotechniczny

Najstarsze czasopismo elektryków polskich. Ukazuje się od 1919 roku.

strona w języku polskim english page



Numer: 12/2024 Str. 272

Autorzy: Tomasz Garbolino :

Tytuł: Analiza maskowania zwarć w sieci połączeń przez rejestr MI

Streszczenie: W artykule dokonano analizy maskowania zwarć w sieci połączeń między modułami cyfrowego systemu scalonego, którego źródłem jest proces kompakcji ciągów odpowiedzi testowych zachodzący w klasycznym rejestrze MISR o liniowym sprzężeniu zwrotnym opisanym wielomianem pierwotnym. Uszkodzenia, które wzięto pod uwagę to jedno- i dwukrotne zwarcia typu summa montażowa dwóch linii. Do pobudzania wejść badanej sieci połączeń wykorzystano powszechnie stosowaną prostą/zanegowaną sekwencję liczącą T/C. W artykule zdefiniowano warunki wzajemnego kasowania się ciągów błędów w rejestrze MISR, które prowadzi do maskowania zwarć w sieci połączeń. Przypadki maskowania uszkodzeń zilustrowano przykładami oraz potwierdzono eksperymentalnie.

Słowa kluczowe: wbudowane samotestowanie połączeń, rejestr MISR, kompakcja, maskowanie błędów, maskowanie uszkodzeń.

wstecz